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Detalhes do livro
Editora
Springer London, Limited
Páginas
183
Idioma
en
Autor
Rohit Kapur
Descrição
Este libro se centra en la descripción de CTL (Core Test Language), un lenguaje utilizado para representar información de prueba en circuitos integrados digitales. El libro está orientado a ejemplos y busca que el lector piense como los creadores de CTL. Es relevante para aquellos interesados en probar circuitos integrados y en el desarrollo o uso de núcleos en metodologías de sistema en chip.
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